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嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析
嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析
武晔卿 编 | 北京航空航天大学出版社
ISBN:9787512408227
原价: ¥36.00
销售价:¥59.14元
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分类 计算机体系结构
作者 武晔卿 编
出版社 北京航空航天大学出版社
图书简介

《嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析》介绍了嵌入式系统设计中,哪些地方最可能带来可靠性隐患,以及从设计上如何进行预防。内容包括:启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法;降额参数和降额因子的选择方法;风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范;PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施;电子产品制造过程中的失效因素(包括EOS、ESD、MSD等)及预防、检验方法;可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。同时,针对相关内容进行实际的案例分析,以使读者更好地掌握这些知识。

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