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扫描电镜测长问题的探讨

扫描电镜测长问题的探讨

周剑雄主编；陈振宇主编 | 电子科技大学出版社

ISBN:9787810949620

原价: ￥50.00

销售价:￥36.20元

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分类自然科学

作者周剑雄主编；陈振宇主编

出版社电子科技大学出版社

图书简介

本文集是微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果的综合，共有23篇相关论文和资料。包含总论，有关的计量规程和相关标准的评述，有关的实物标准样品的研究和介绍等四部分。

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