内容简介本书详细介绍了集成电路测试的基本原理、测试系统和测试开发方法。首先介绍了集成电路测试的相关概念和术语，集成电路测试的最新发展趋势；其次详细介绍了集成电路直流参数测试和模拟集成电路测试的基本方法；再次介绍了数字集成电路的基本测试方法，然后在此基础上重点介绍了数模混合电路（ADC/DAC）测试方法。此外，本书还对集成电路测试系统（ATE）的结构和工作原理、测试接口板（DIB）和测试程序开发做了介绍。    本书可作为集成电路测试相关专业本科和专科的教材，同时可用于集成电路测试专业技术人员培训，也可作为从事集成电路测试技术研究人员的参考书。