《单板级JTAG测试技术》是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括：基于IEEEl149．1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEEl687标准的集成电路测试技术发展趋势。　　《单板级JTAG测试技术》适合于从事集成电路开发的工程技术人员阅读，对于电子测量、通信工程和电路系统学科的学生，也有一定的参考作用。