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现代材料测试技术
现代材料测试技术
陶文宏,杨中喜,师瑞霞 主编 | 化学工业出版社
ISBN:9787122178206
原价: ¥39.00
销售价:¥14.54元
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分类 一般问题
作者 陶文宏,杨中喜,师瑞霞 主编
出版社 化学工业出版社
图书简介

本选题的主要功能是作为高等院校材料类专业相关测试技术的教材使用,同时也可用于与材料类相关专业的参考教材,及厂矿企业工程技术人员的参考书籍。教材主要介绍X射线衍射分析、电子显微分析、光学显微分析、热分析技术、红外光谱分析、X射线显微成分分析、扫描探针显微镜等测试技术(仪器)的工作原理、性能技术指标、使用方法及使用中应注意的问题,以及各种试样制备的方法及注意事项。并将结合当代材料科技发展的前沿,特别材料测试技术及仪器设备的发展近期新状况,介绍测试技术(仪器)的发展沿革,近期新的发展动态。本教材的主要不同之处在于教材中的主要内容之一“光学显微分析”的内容,在现有的材料类专业测试技术方面的教材中都没有涉及或内容很少,不能满足我校课程设置的教学内容的需要。光学显微分析将介绍晶体光学基础,光学显微镜、偏光显微镜下晶体光学性质的测定(包括单偏光镜、正交偏光镜、锥光镜下晶体的光学性质)、反光显微镜下矿物的光学性质等内容。

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