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材料分析测试技术――材料X射线衍射与电子显微分析
材料分析测试技术――材料X射线衍射与电子显微分析
周玉 武高辉 | 哈尔滨工业大学出版社
ISBN:9787560313382
原价: ¥26.80
销售价:¥3.90元
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分类 一般工业技术
作者 周玉 武高辉
出版社 哈尔滨工业大学出版社
图书简介

《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法,并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。

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